致茂Chroma 19501-K 局部放電測(cè)試儀

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致茂Chroma 19501-K 局部放電測(cè)試儀

主要特色：

• 單機(jī)內(nèi)建高電壓耐壓測(cè)試與PD偵測(cè)功能
• 可程式交流電壓 0.1kVac ~ 10KVac
• 高精度及高解析度電流表 0.01uA ~ 300uA
• 局部放電(PD)偵測(cè)范圍 1 pC ~ 2000 pC
• 高壓接觸檢查功能(HVCC)
• 符合IEC60747-5-5與IEC 60270-1 法規(guī)測(cè)試要求
• 內(nèi)建IEC60747-5-5 測(cè)試方法
• 三段電壓測(cè)試功能
• PD測(cè)量結(jié)果數(shù)字化顯示(pC)
• PD 不良發(fā)生判定次數(shù)設(shè)定 (1~10)
• 繁中/ 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
• USB畫(huà)面擷取功能
• 圖形化輔助編輯功能
• 標(biāo)準(zhǔn)LAN, USB, RS232遠(yuǎn)端控制介面

Chroma 19501-K 局部放電測(cè)試器結(jié)合高電壓耐壓測(cè)試與局部放電(Partial Discharge)偵測(cè)功能于一單機(jī)，提供交流電壓輸出大10kV，漏電流量測(cè)范圍從0.01uA~300uA，局部放電偵測(cè)范圍小可偵測(cè)1pC放電量，針對(duì)高壓半導(dǎo)體元件及高絕緣材料測(cè)試應(yīng)用所開(kāi)發(fā)。產(chǎn)品設(shè)計(jì)符合IEC 60270-1與IEC60747-5-5法規(guī)要求，同時(shí)內(nèi)建IEC 60747-5-5法規(guī)之測(cè)試方法在儀器內(nèi)部，滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測(cè)試需求，并提供給使用者一個(gè)便利操作介面.

在生產(chǎn)線上執(zhí)行高壓測(cè)試時(shí)，如果被測(cè)物未能正確及良好連接測(cè)試線，將導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果失敗甚至是漏測(cè)的風(fēng)險(xiǎn)。因此，在測(cè)試前確保被測(cè)物與測(cè)試線良好連接是非常重要的。 Chroma *之HVCC高壓接觸檢查功能(High Voltage Contact Check)，利用Kelvin測(cè)試方法針對(duì)高絕緣能力之元件于高壓輸出時(shí)同步進(jìn)行接觸檢查，提升其測(cè)試可靠度與效率。

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